Vrstični elektronski mikroskop (SEM) – JEOL JSM-IT100
datum: 30.01.2026
Prodamo 9 let star SEM JEOL JSM-IT100, primeren za detajlno analizo površin različnih vzorcev pri visokih povečavah. Sistem omogoča natančno navigacijo in pozicioniranje po površini vzorca.
Prodamo 9 let star SEM JEOL JSM-IT100, primeren za detajlno analizo površin različnih vzorcev pri visokih povečavah. Sistem omogoča natančno navigacijo in pozicioniranje po površini vzorca.
TEHNIČNE SPECIFIKACIJE:
- Omogča delo v režimu visokega (HV) in nizkega vakkuma (LV)
- Ne potrebuje tekočega dušika za hlajenje (Peltier), manjši stroški, enostavna uporaba
- CCD kamera za lahek nadzor in manipulacijo vzorcev v komori
- Avto-fokus, avto-stigmator, Joy-stick, enostavna uporaba in software
- Območje povečav: 18x – 300.000x, Pospeševalna napetost: 0.5 kV – 20 kV, Ločljivost: 4 nm (HV) in 5 nm (LV) pri 20 kV
- Detektorji: SED, BED, EDS, EDS maping
- Maksimalna velikost vzorca: 150 mm
- Možni pomiki mizice za vzorce: Motorizirani v X in Y in Z, Nagib: -10° do +90°, Rotacija: 360°
- X: do 80 mm,
- Y: do 40 mm,
- Z: do 5 mm,
SEM je bil uporabljan izključno v raziskovalne in izobraževalne namene, je odlično ohranjen, v odličnem stanju, zadnji večji servis v novembru 2025.
LOKACIJA: Fakulteta za strojništvo, Laboratorij za Tribologijo in površinsko nanotehnologijo, Bogišićeva 8, Ljubljana.
KONTAKT: Mitjan Kalin| mitjan.kalin@fs.uni-lj.si | 01 477 1460