Dogodki in novice

datum: 06.04.2016

V laboratoriju razpolagamo z novim vrstičnim elektronskim mikroskopom (SEM), s katerim smo nadomestili obstoječega. Tehnike (LV, HV, SED, BSED, EDS, idr.), ki so na voljo pri novem SEM-u, nam omogočajo izvedbo površinskih analiz na vseh vrstah materialov, pri povečavah med 5x in 300.000x.

Novi vrstični elektronski mikroskop JEOL JSM IT100 je primeren za analizo vzorcev v dveh režimih: pri visokem in nizkem vakuumu. Medtem ko je visoki vakuum namenjen analizam suhih površin pri najvišjih povečavah, nam mikroskop v režimu nizkega vakuuma omogoča izvedbo površinskih analiz nečistih vzorcev, kjer želimo preučiti prisotnost maziva, prenosnih filmov, obrabnih delcev, idr. Prav tako lahko z novim SEM-om izvedemo kvalitativno in kvantitativno analizo kemijskih elementov na in v površinah vzorcev, kar nam služi za določevanje kemijske sestave osnovnega materiala vzorcev, obrabnih mehanizmov, prisotnosti aditivov v mazivih, itn.