Mikroskop na atomsko silo (AFM) - Veeco
Mikroskop na atomsko silo Veeco CP-II
- Način delovanja: kontaktni in nekontaktni AFM, LFM, STM...
- Območje skeniranja (površina): 100 µm x 100 µm
- Območje skeniranja (višina): 7,5 µm
- Ločljivost: lateralno - 0.25 Å; vertikalno - 0.025 Å
- Analiza: 2D in 3D topografije z atomsko ločljivostjo, parametri hrapavosti, nano-trenje, nano-trdota...