Vrstični elektronski mikroskop (SEM) - JEOL JSM IT100
JEOL JSM IT100 vrstični elektronski mikroskop za delo v režimu nizkega in visokega vakuuma
- Način: LV, HV, SED, BSED, EDS
- Analiza: kvalitativna, kvantitativna
- Analiza slike: kvalitativna 3D, kvantitativna 2D/3D