Mikroskop na atomsko silo (AFM) - Asylum Research, Oxford Instruments

Mikroskop na atomsko silo MFP-3D Origin

  • Območje skeniranja (površina): 120 µm x 120 µm
     
  • Območje skeniranja (višina): 15 µm
     
  • Velikost vzorcev: do premera 80 mm ter debeline 30 mm
     
  • Možnost kontroliranega gretja vzorca: od sobne temperature do 275 °C
     
  • Način delovanja: kontaktni način/LFM, dotikalni način (tapping mode), kvalitativno merjenje mehanskih lastnosti z vzbujanjem nosilca pri dveh frekvencah (Dual AC), merjenje dušenja (razmerje med viskoznim ter elastičnim modulom), merjenje sil (adhezija ter elastični modul), kvantitativno merjenje viskoelastičnih lastnosti, merjenje v tekočini, mikroskopija električnih sil, mikroskopija površinskega potenciala, mikroskopija magnetnih sil, mikroskopija feroelektrične/piezo odzivnosti merjenega materiala
     
  • Analiza: topografija površine, hrapavost, debelina tankih filmov, kvalitativna in kvantitavina določitev mehanskih lastnosti vzorcev ter trenje na nano skali