Površinske analize

Mikroskop na atomsko silo (AFM) - Asylum Research, Oxford Instruments

Form Talysurf i-Series PRO

Ramanski spektrometer - Scientific XploRA Plus V1.2 - HORIBA

3D digitalni mikroskop Hirox HRX-01 & NPS z nano-točkovnim konfokalnim profilometrom

Preizkuševališče za realno kontaktno površino med gibanjem

Mikroskop na atomsko silo (AFM) - Veeco

Vrstični elektronski mikroskop (SEM) - JEOL JSM IT100

Spektrometer in mikroskop - Perkin-Elmer

3D optični mikroskop - Bruker - ContourGT-K0

Optični mikroskop - Nikon - LV150

Merilnik kontaktnih kotov - KSV - CAM 101

Merilnik hrapavosti - Hommel Werke - T8000

Merilnik zaostalih napetosti - HBM - MTS 3000

Kombinirani stereo mikroskop - Wild

Ferograf. mikroskop - Olympus

Precizna žaga - Buehler - Isomet 1000

Merilnik mikrotrdote po Vickersu - Leitz - Miniload 2

Nanovtiskovalec - Step 700 + UNHT³ - Anton Paar